半导体高低温试验箱

　　半导体高低温试验箱型号与参数
型号          工作尺寸         外型尺寸cm
th－100       40×50×40       120×165×115
th－150       50×60×50       130×170×125
th-225         60×75×50         140×185×130
th-408         60×85×80         165×195×155
th-800     100×100×80      185×200×175
th-1000       100×100×100     190×210×185
温度范围：（a：+25℃；b：0℃；c：-20℃；d：-40℃；e：-60℃；f：-70℃）高温:100℃(150℃)
箱体结构：
箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。
箱体内胆采用进口高级不锈钢（sus304）镜面板，箱体外胆采用a3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。
大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用
也可按客户需要定制非标试验箱，
温度波动度：±0.5℃
温度偏差：  ≤±2℃
湿度范围：30～98% r＆#8226;h
湿度偏差：+2～-3% r＆#8226;h
升降温平均速率：0.7℃～1.0℃/min
时间设定范围：   0～9999小时
电源要求：ac380v
符合标准
试验箱具有较宽的温湿度调节控制范围，可满足国家标准本产品满足gb 2423.1--2001、gb 2423.2—2001、gb2423.3-2001、gb2423.4-2001等国家标准《电工电子产品基本环境试验规程》a：低温试验方法，试验b：高温试验方法，试验ca：恒定湿热试验方法，试验db：交变湿热试验方法》要求。gb 10592—89、gb/t5170.2-96国家标准制造件，并可按军标试验要求gjb150.3-86，gjb150.4-86，及非标准制作各种高低温环境试验。并等效满足gjb150.9-86等相应的国标、军标；也可按客户的要求制造非标准产品。
免费送货上门，并安装调试操作介绍（直到需方员工独立操作并满意为止）

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